UIG产品速递 | X系列高速同轴测试座
2024-09-14
考试座,也称Test Socket,在光电元器件制造厂过程中中,适用于集成型电路板终测 IC Final Test,它在待测光电元器件元器件与考试机械设备中间出示不间断接,展开多样不间断功效和功效考试。
· 芯片锡球间距从0.3mm到0.8mm,可提供定制服务
· 适用于工程测试、大规模量产
· 提高操作频率范围
· 减少能量的反射和损耗
· 降低串音干扰
速度高达224Gbps的X系列高速同轴测试座正在研发中,敬请期待。