射频芯片测试座，即RF IC Test Socket，是用于连接射频芯片和测试机台的接口装置。通过射频芯片测试座，射频信号能够被准确地传输到测试仪器，从而进行芯片电气性能的筛选。

        微波rf射频心片宽泛技术应用于联通智力用户主设备、WiFi、各类汽车自动化和智慧生活社区医疗等行业领域，其心片封装内容大的部分为QFN（Quad Flat No-lead）。的市场对微波rf射频心片考试座的要求越发的也越发的多，也越发的越高。

        基于rf频射表现一般来说频点较高、光谱较短，文件传输时候中易因为衰减和电磁波辐射，rf频射基带芯片测评座是需要超高的高精密性，金年会 科研开发团对在开发前会有点目光这部分要素。

        此次将给大家介绍Z系列射频芯片测试座。

        金年会 Z系列射频芯片测试座，通过精密的机械结构设计，选择高品质的材料，能最大限度地减少信号损失和干扰，从而保证测试结果的准确性。该系列测试座广泛应用于5G、PA、Switch、WIFI、LNA、Bluetooth、Audio Chip等领域。

关联通话｜+86 0512-87176308电子邮箱｜Sales@afangroup.com地此｜苏州市高新产业区峨绵阳路80号、普陀区山路上19-6