金年会

探针卡

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• 针尖 Over Drive 45um-130um,可达到不一样的机台测试测试行程英文• 自主经营研究开发 MEMS Pin合金类生产工艺,能做到极致跨距(至少45um)• 针身一直性高,针尖的水平在10um三岁考试更加稳定定• 选取有趣 MEMS Point流程,拥有多种 Pad測試使用需求